颗粒粒径形状分析仪XPT

XPT-C 为离线湿法分析系统，通过蠕动泵使得颗粒悬浮液流经流动池，从而实现 CCD 相机的拍摄作用，最终分析颗粒的形状、参数的变化趋势、粒径的分布等信息，并实时保存结果数据。

XPT-P 型颗粒分析仪为在线测试系统，采用探针技术，光源和CCD 相机的信号传输通道均集成于探针内部。测试过程中，将探针置于流场内部，即可实现对颗粒的采样及分析。

XPT-CV 型号的系统跟其它设备的不同之处在于该系统采用一套文丘里系统，将颗粒从工艺流程中吸出，经过流动池拍摄后重新注入到工艺中，实现物料的封闭循环。XPT-CV可用于食品、制药等领域的造粒过程中对颗粒进行监控，通过形状参数判断杂质离子。

XPT-CV 测试系统能够测量的粒径范围为10μm-3mm。由于测试过程中不断从工艺中抽出新的物料，能够实现对工艺的持续监测；为了适应工业应用中的恶劣环境，XPT-CV 采用防护级别为IP65 的特制外壳，保障设备的稳定与安全。