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微电子封装焊点热疲劳寿命计算(Coffin-Manson模型 & Darveaux模型)

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1  概述

表贴封装(如BGA、QFN、LGA等)焊点温度循环过程中的热疲劳失效是非常常见的失效模式,往往会导致焊点裂纹甚至是开路。而焊点的温循热疲劳是典型的低周疲劳,表现为在工作过程中或温循测试过程中,热应力往往会超过材料本身的屈服点而产生塑性应变,此时并不会立即破坏,但是当交变温度载荷持续进行且循环次数较多时,最终会由于疲劳产生裂纹而导致破坏。

关于合金焊料的热疲劳寿命预测模型,依据不同的损伤指标划分主要有两大类:一类是基于塑性形变,即寿命循环数与每一循环焊点剪切塑性应变大小建立模型关系,该类模型有Coffin-Manson,Engelmaier和Syed模型;另一类是基于损伤能量,即通过计算每一次循环的应变能或者应变能密度,得到焊点寿命与应变能密度的关系,比较经典的是Darveaux模型,且被广泛应用。

下面将对这两类模型下的疲劳寿命计算方法进行介绍。

2  基于塑性形变的焊点热疲劳寿命预测

该方法中焊点的材料模型采用基于统一的粘塑性Anand本构模型,外加Coffin-Manson方程进行计算。

2.1  统一的粘塑性Anand本构方程

Anand模型是Anand于1982年提出应用于粘塑性材料的理论。粘塑性材料是一种应力或应变率随时间变化的材料性质。就是当材料所承受的外力大到使材料产生塑性变形时,塑性变形与时间相关。

对大部分材料而言,常用的塑性理论足以表示其力学行为,但对于部分金属或合金而言,材料在高温下,容易同时具有蠕变与塑性行为。Anand在文中提到当材料的温度(绝对温度)高于本身熔点的一半时,就必须考虑粘塑性行为。这种行为和蠕变有点类似,但是比蠕变更复杂,所以Anand本构方程是以Garofalo-Arrhenius蠕变方程式为基础,加入阻止变形因子,并另外建立两条本构方程式用以连接阻止变形因子与Garofalo-Arrhenius蠕变方程,最终构成Anand本构方程式。

Anand以Garofalo-Arrhenius方程推导出以下:

式中,Q为激活能,m为应变率敏感指数,R为气体常数,ξ为应力乘子,εeq为等效塑性应变量,s为阻止变形因子。

内部状态变量的演化方程具体形式为:

式中S*表示给定温度和应变率时内部变量的饱和值,其具体形式为:

式中,h0为硬化/软化常数,α为与硬化/软化相关的应变率敏感数,S^为变形抵抗饱和值系数,n为对应于变形抵抗饱和值的应变率敏感度。

以上3式即为Anand模型的本构方程,使用该模型进行预测首先要根据试验数据确定材料常数。目前Anand模型已内建在ANSYS软件中,只需输入9个Anand参数即可,各参数意义如下:

软件中的设置界面如下:

 

2.2  Coffin-Manson模型热疲劳寿命计算

材料的低周疲劳寿命(Nf)和塑性应变范围之间符合Coffin-Manson方程:

式中εf为疲劳韧性系数;c是疲劳韧性指数。

由于Sn63Pb37焊料的热循环影响因素很多,具体应用中,C-M方程已被修正为许多形式,如:Engelmaier同时考虑热循环温度和频率的影响,C-M方程修正为:

c为疲劳韧性指数,与频率和温度有关,具体表达如下:

Tm为热循环平均温度,f 为热循环频率(cycle/day),εf=0.325经验选择。

2.3  应用示例

根据以上经验方程,疲劳寿命主要以危险焊点为参考,计算出危险节点的塑性应变幅值。ANSYS workbench中,可以对危险节点建立Named selection,输出危险节点的塑性应变曲线,如下图:

通常认为第五个循环已达到稳定,根据热循环加载条件, Tm为35℃,高低温保持时间30min,升降温时间5min,整个周期1h10min,f 为一天内温度循环频率,通过计算得f=20.57,c= -0.40956。

危险焊点处剪切塑性应变范围:0.0285424 mm/mm,根据修正的C-M方程计算得Nf =1103。

3  基于损伤能量的焊点热疲劳寿命预测

该方法中焊点的材料模型采用Garofalo-Arrhenius模型,外加Darveaux能量方程进行计算。

3.1  Garofalo-Arrhenius双曲线型稳态蠕变方程

蠕变是在给定的拉力或剪切力作用下,随时间而产生的材料变形。蠕变在热活化过程中产生,当使用的温度超过焊料熔化温度的一半(开尔文温度)时,开始发生蠕变。蠕变也是焊料中最重要的变形机理,是合金焊球的主要破坏因素。

Garofalo等人根据合金稳态蠕变的实验结果,分析了材料在热循环中非弹性变形的累积过程,得到合金焊料的Garofalo-Arrhenius双曲线稳态蠕变规律,用于描述合金焊料的高温稳态蠕变行为,具体形式如下:

工程化应用中,上式已经被修正为:

简单的说,应变率是温度与应力的函数。在使用ANSYS仿真时,只需要把所需材料的以上四个常数C1,C2,C3,C4设定即可。设置界面如下:

3.2  Darveaux模型热疲劳寿命计算

裂纹初始时间和裂纹生长率可以通过以下公式计算(Darveaux模型),计算时裂纹生长率被认为是常数,不会随时间的推移而变化。

裂纹初始时间:

裂纹生长率: 

特征寿命:

式中Nw为特征循环寿命,K1、K2、K3和K4为BGA封装系数,视具体的封装形式而定。ΔWave是单个循环内累积的塑性应变能密度,通过以上公式可以计算。

通常得到第n个稳定循环后总共累积的平均塑性应变能密度,减去第n-1个循环累积的平均塑性应变能密度,即可得到Δ Wave:

式中i为单元号,vi是单元编号为i的单元体积,N为选定的单元总数,Δ Wi是单元号为i的单元一个循环内的累积塑性应变能密度。

将Δ Wave计算值带入Darveaux方程即可求得焊球的特征疲劳寿命。

3.3  应用示例

对于焊点而言,蠕变变形是焊点失效的主要原因,因此有必要分析焊点在温循过程中的蠕变应变时间历程。在后处理阶段,按照3.2中的方法,读取该焊点靠近危险侧的一层单元信息,读取每个单元的体积、等效应力、等效蠕变应变、累计蠕变应变和蠕变应变能量密度,然后根据体积求该层单元的加权平均值,如下图示意。

绘制焊点最严酷位置单元的滞回环曲线及累积塑性应变能密度曲线。从图可以看出材料响应曲线随着升温-保温-降温-保温的循环,形成一个封闭的滞回环,滞回环面积的大小即为单元一个循环内的累积塑性应变能密度大小,相邻两个滞回环面积差值即为塑性应变能密度增量。应力应变滞回环如下图:

通常滞回环在3~5个循环后达到稳定,计算某个稳定循环的塑性应变能密度增量Δ Wave,后续用该值来预测焊点的热疲劳寿命。

塑性应变能量密度随着热循环次数的增加显著增加,其增加趋势呈现“阶梯状”。在升温和降温阶段,蠕变的增加速率较大,而在保温阶段,增加速率明显较小。每个温度循环所累计的塑性应变能密度近似为一定值,可通过计算第5个温度循环后累积的塑性应变能量密度减去第3温度循环后对应累积值,再除去循环数目2,即可得出每个温度循环所累积的塑性应变能量密度。累积塑性应变能量密度曲线如下图:

例如,某种封装形式下,K1=17.95,K2=-1.62,K3=1.49x10-3,K4=1.04,焊盘尺寸为0.52mm,焊点第5个循环累积的塑性应变能量密度Δ Wave为2.41 MPa,则预期的热疲劳寿命为:


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来源:CAE初行者
Workbench疲劳电子裂纹理论材料仿真体系试验ANSYS
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首次发布时间:2026-09-30
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远山
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