屏蔽罩+铜箔，CST仿真详解铜箔封堵解决缝隙天线效应

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前言

之前我在《屏蔽罩辐射不降反升？CST仿真详解“谐振腔”与“缝隙天线”的真相》一文中提到屏蔽罩辐射不降反升可能是谐振腔效应或者缝隙天线效应引起的。

上两篇我们通过《吸波材料如何仿真和设计？CST实例讲解吸波材料反射率 & 衰减常数 & 功率损耗密度仿真》和《吸波材料+屏蔽罩，CST仿真吸波材料屏蔽罩屏蔽效能及缝隙天线效应分析》验证了吸波材料破坏谐振腔是否对减小腔体谐振效应有效果。辐射电场对比无屏蔽罩降低了10个dB，屏蔽效能（SE）只有10dB，所以推断很大可能屏蔽罩辐射不降反升是缝隙天线效应导致的。

本文通过CST仿真给屏蔽罩贴铜箔和导电泡棉来看看，和没有屏蔽罩电场强度对比看看。

1.屏蔽罩外部缝隙贴铜箔建模

本文贴的是0.1mm的铜箔，本人今天还是有点极端给屏蔽罩缝隙全堵住，贴成这个熊样。

没贴之前的屏蔽罩

贴铜箔的屏蔽罩

首先我们仿真的是没有屏蔽罩的辐射场强，电场探头设置的360°环绕，3m场，带宽3GHz~6GHz。

1.仿真结果如下：

此时4.2666GHz电场强度33.5dBuV/m。

2.无屏蔽VS屏蔽罩+铜箔对比

红色频谱是无屏蔽，橙色频谱是屏蔽罩+铜箔

从无屏蔽VS屏蔽罩+铜箔对比结果看，4.2666GHz电场强度分别是70.8dBuV/m和33.5dBuV/m。所以屏蔽效能(SE)是37dB。

3.电场分布

只加屏蔽罩电场分布

屏蔽罩+铜箔电场分布

从屏蔽罩+铜箔电场分布图上可以看到效果立竿见影，电场强度小了不少，屏蔽效能37dB，达到行业要求的＞30dB，可以得出屏蔽罩辐射不降反升主要原因是整个屏蔽罩存在缝隙天线效应所致。

本文通过CST仿真验证，屏蔽罩辐射不降反升，主要原因是屏蔽罩缝隙形成的缝隙天线效应。本文使用0.1mm铜箔堵住缝隙后，屏蔽效能达到 37dB，超过行业常用的>30dB 要求。吸波材料对破坏腔体谐振有效，但不能完全解决缝隙泄漏问题。

来源：CST电磁兼容性仿真

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首次发布时间：2026-09-28

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