112G PAM4 通道设计里,真正要先回答的问题,不是“PCB 最多能损耗多少 dB”,而是:
在封装、连接器、过孔、走线和制造波动都算进去之后,PCB 还剩多少预算。
损耗预算不能脱离系统限制,也不能只停在仿真模型里。系统模型给出目标,制造审查决定这个目标能不能被稳定复现。
在 112G PAM4 这类高速链路中,材料 Df、铜箔粗糙度、阻抗变化、过孔残桩、背钻深度控制和测试相关性,都会消耗裕量。因此,预算分配和制造验证必须在打样或量产释放前就闭环。
需要特别说明的是,下面涉及的损耗、残桩、coupon 等数值只能作为规划示例。真实项目必须回到所选 SerDes、接口标准、通道架构和合规方法。
总通道损耗限制 ↓ 扣除 Tx/Rx 封装与 board launch ↓ 扣除连接器损耗 ↓ 扣除过孔转换损耗 ↓ 预留制造与测试相关性余量PCB 走线可用预算 112G PAM4 的预算起点,不应该是一个通用的“最大 PCB loss”。
正确做法是从芯片、接口规范或合规模型给出的总通道限制出发,然后先给非 PCB 走线部分预留预算,最后才把剩余部分分配给板上走线。
可以按下面这个逻辑理解:
PCB 走线可用预算= 总通道损耗限制- Tx/Rx 封装与板级 launch- 连接器- 过孔转换- 制造与相关性余量 举一个规划示例:如果总通道限制按 30 dB 估算,封装和 launch 分 4 dB,连接器分 4 dB,过孔转换分 2 dB,制造与相关性预留 2 dB,那么剩给 PCB 走线的大约是 18 dB。
这个例子不是规范值。每一项都要用项目自己的数据替换。
| 预算项 | 规划示例 | 工程输入 |
|---|---|---|
| 总通道损耗限制 | 30 dB | SerDes 数据、接口规范或合规模型 |
| Tx/Rx 封装与 launch | 4 dB | 封装模型、breakout 几何、launch 仿真 |
| 连接器 | 4 dB | 连接器 S 参数、配合状态、launch 结构 |
| 过孔转换 | 2 dB | 过孔数量、antipad、残桩、参考平面转换 |
| 制造与相关性余量 | 2 dB | 材料、蚀刻、铜箔、测试相关性 |
| PCB 走线可用预算 | 18 dB | 走线长度、routing 层、介质损耗、铜箔模型 |
如果算下来剩余走线预算不够,不应只靠“把阻抗公差写得更严”来解决。通常要组合考虑缩短走线、换低损耗材料、使用更低轮廓铜箔、减少过孔转换,或者调整连接器和通道架构。
材料会影响插入损耗、阻抗、传播延迟,以及不同批次之间的一致性。
但材料选型不能只看 laminate 名称,也不能只看数据手册上的 Dk/Df。真正要审查的是项目将要量产的具体叠构:介质厚度、树脂系统、玻纤结构、铜箔轮廓,以及这些材料在板厂是否可稳定获得。
材料审查至少要拆成几类变量:
| 材料变量 | 主要影响 | 审查重点 |
|---|---|---|
| Df | 介质损耗 | 频率相关模型、测试方法、生产材料名称 |
| Dk | 阻抗和传播延迟 | 设计 Dk、目标厚度、阻抗模型 |
| 玻纤与树脂含量 | skew、局部有效 Dk | 玻纤类型、树脂比例、铺布方案 |
| 材料替代 | 损耗、阻抗、压合行为 | 铜箔、玻纤、树脂、介质厚度是否等效 |
| 批次与厚度变化 | 阻抗和插损偏移 | 来料控制、压合计划、成品厚度公差 |
这里最容易犯的错误,是批准替代材料时只看标称 Dk 和 Df 接近。替代材料还要确认铜箔类型、玻纤结构、树脂含量、可用介质厚度,以及是否需要重新跑阻抗和损耗模型。
到了 112G PAM4,导体损耗对铜箔表面轮廓非常敏感。
低轮廓铜箔可以改善通道损耗,但选择铜箔不能只看损耗曲线,还要同时考虑附着力、压合可靠性、蚀刻行为、成本和生产可获得性。
ED、RTF、VLP、HVLP 这些铜箔描述,不同供应商之间不能简单等同。SI 模型里应该使用实际计划量产的 laminate/foil 组合,以及供应商文档里的粗糙度参数。
铜箔审查至少要覆盖:
铜箔名称和供应商定义;
SI 团队使用的粗糙度模型和参数;
treated side 与 untreated side 的方向;
极低轮廓铜箔的附着和可靠性窗口;
量产批次的一致性和验证方法。
一句话:不要用一个泛化的“铜表面”去代表真实产品里的铜箔。
背钻的目的,是减少未使用的 plated-through-hole barrel 长度,从而改善回波损耗并降低残桩谐振风险。
但背钻不应被写成一个笼统要求,例如“关键高速孔全部背钻”。更合理的流程是:
通道模型 / 合规分析 ↓确定关键过孔最大残桩 ↓转换成可制造钻深窗口 ↓图纸定义钻孔侧、目标层、深度基准 ↓X-ray / microsection / coupon / 通道测试验证 背钻控制里最容易出问题的地方,是深度基准、成品板厚、层间对位、过孔/焊盘/反焊盘几何,以及残桩验收标准没有写清。
所以,残桩目标不是制造端凭经验猜出来的,而应该来自通道模型。
总插损只是通道行为的一部分。
即使绝对插损看起来还在预算里,插入损耗偏差、局部谐振、回波损耗不连续和模式转换,也可能降低均衡效果和系统裕量。
几个重点风险需要拆开处理:
ILD:频域 ripple 或 notch 会降低均衡有效性,需要做频域审查和模型-实测相关。
过孔转换:antipad、参考平面切换和残桩都会引入不连续,需要 3D 模型、TDR 或 S 参数分析。
BGA breakout:可能出现回流路径中断、neck-down 和 skew,需要结合 layout 与叠构审查。
连接器 launch:可能带来反射、串扰和模式转换,需要厂商模型加板级 launch 分析。
coupon 与产品不一致:coupon 通过不代表真实通道通过,coupon 拓扑要贴近关键 routing 和 transition。
因此,PCB 厂商在审查前应该拿到关键信息:高速 routing 层、目标阻抗、最大通道长度、过孔转换数量、背钻要求、连接器位置,以及 prototype 和 production 阶段的验证方法。
仿真模型通常使用标称几何和标称材料值。但真实生产会引入受控变化。
这些变化包括介质厚度、蚀刻后的线宽和梯形截面、镀铜厚度、材料批次、铜箔轮廓、层间对位和背钻深度。
它们带来的影响也不同:
| 制造变化 | 主要影响 | 需要控制什么 |
|---|---|---|
| 成品介质厚度 | 阻抗、延迟 | 压合计划、厚度公差、成品测量 |
| 线宽与梯形截面 | 阻抗、导体损耗 | 蚀刻补偿、线宽公差、截面确认 |
| 外层镀铜厚度 | 几何尺寸、阻抗 | 镀铜窗口、外层结构建模 |
| 材料批次与铜箔轮廓 | 插损、模型相关性 | 材料锁定、铜箔参数、批次记录 |
| 层间对位 | 过孔、antipad、背钻对齐 | 对位能力、关键层审查 |
| 背钻深度 | 残桩长度、谐振风险 | 钻深基准、检查方法、验收标准 |
制造余量不应该是随便写的数字。它应该反映材料体系成熟度、叠构复杂度、通道模型成熟度、板厂工艺能力,以及项目已有的相关性数据。
验证不应等板子回来之后才临时补。
在进入生产前,就应该确认项目需要验证什么:阻抗、损耗相关性、过孔转换、残桩,还是完整通道 S 参数。
常见验证方法包括:
| 验证方法 | 主要用途 | 关键定义 |
|---|---|---|
| TDR impedance coupon | 阻抗与不连续 | 结构、参考平面、采样位置 |
| Delta-Loss / loss coupon | 单位长度插损 | 频率范围、线长、层别、相关性方法 |
| via / launch coupon | 过孔、BGA、连接器 launch | 几何结构、去嵌边界、验收指标 |
| X-ray / microsection | 背钻深度、残桩 | 切片位置、深度基准、报告格式 |
| 产品级 S 参数 | 真实通道表现 | fixture、de-embedding、频率范围、文件格式 |
不要只写一句“S2P required”。如果不定义测试夹具、参考平面、去嵌方法、频率范围、文件格式和验收标准,两次都“正确”的测试也可能很难比较。
一份有效的 112G PCB fabrication package,应该能让制造商把电气意图连接到物理叠构和检查计划。
释放制造前的 release checklist 可以概括为:
| 检查项 | 要确认的内容 |
|---|---|
| 层叠结构 | 成品介质厚度、铜厚目标、routing 层 |
| 材料 | laminate、prepreg、铜箔名称和替代审批 |
| 阻抗 | 单端/差分结构、线宽线距、目标公差 |
| 过孔结构 | via、pad、antipad、参考平面转换 |
| 背钻 | 钻孔侧、目标层、深度基准、残桩要求 |
| launch 区域 | 连接器、BGA breakout、关键转换结构 |
| 验证计划 | coupon、检查方法、报告格式、验收标准 |
| 量产控制 | prototype 到 production 的变更控制 |
| 相关性责任 | 模型、实测、板厂数据之间如何闭环 |
这张清单的价值,是让“电气目标”不只停留在 SI 模型里,而能真正落到制造文件和验收方法里。
从 PCB 制造审查视角看,板厂的角色不是替客户定义系统级合规模型,而是审查 proposed stackup、材料、阻抗结构、过孔和背钻要求能否转换成可控的 PCB 制造过程。
它可以参与的环节包括:
生产前工程审查:检查叠构、材料可获得性、阻抗结构、过孔转换、背钻 notes 和制造风险;
NPI 验证计划:提前对齐 coupon、检查方法、报告要求和变更控制;
prototype 到 production 控制:在设计走向稳定生产时保持材料、叠构和关键工艺要求一致;
工程反馈:返回可制造性风险、材料替代风险、深度控制问题和验证缺口。
这部分对设计团队的启发是:112G 项目不能等 layout 完成后才把板厂当作报价窗口,而应该在 fabrication window 锁定之前,把叠构、材料、过孔和验证计划一起拿出来审查。
112G PAM4 的损耗预算,本质上是一个系统工程问题。
系统模型决定通道目标,PCB 设计决定结构路径,材料和工艺决定能不能稳定复现,coupon 和实测决定模型是否可信。
如果只问“PCB 能承受多少 dB”,问题就已经被问窄了。
更好的问题是:
在封装、连接器、过孔、材料、铜箔、背钻和制造变化都被分配之后,这条 112G PAM4 通道还有多少可验证的真实余量。
资料来源:Ultroniu,2026-07-15
文章题目:112G PAM4 PCB Loss Budget: Material, Copper Roughness and Backdrill Control
原文链接:https://www.ultroniu.com/blog/pcb-design/112g-pam4-loss-budget-allocation/