泥浆携岩能力不足时,井斜段容易形成岩屑床,裸眼井段可能出现沉砂、掉块和缩径。长串测井仪器通过这些位置时,容易发生遇阻。
如果强行下放,可能导致仪器外壳受损、电缆弱点拉断,严重时还会造成仪器落井。因此,仪器在同一井深连续遇阻时,应及时停止下放,结合井径、钻井记录和电缆张力判断原因。
高密度、高失水泥浆容易形成厚而软的泥饼。在高渗透地层中,井筒液柱压力高于地层压力,贴壁仪器可能受到压差作用而被吸附在井壁上。
高黏度和高静切力泥浆还会增加仪器启动阻力。仪器停留时间越长,重新启动所需拉力通常越大,长仪器串和贴壁仪器尤其需要注意。
泥浆黏度升高后,仪器运动阻力增加,可能出现下放速度忽快忽慢、电缆张力持续偏高等现象。测速不稳定会造成曲线深度错位、采样不均匀和重复测量误差。
斜井和水平井中,这种影响更加明显,因为仪器重力不足以克服摩阻,可能需要采用钻具输送、连续油管输送或爬行器输送。
泥浆电阻率和泥浆滤液电阻率是电阻率测井解释的重要参数。
水基泥浆电阻率发生变化时,会改变井眼校正量及浅层、深层电阻率的差异。高失水泥浆会加深滤液侵入,使浅电阻率更多反映冲洗带性质。因此,深浅电阻率曲线出现分离,并不一定完全由油气造成,还可能与泥浆滤液侵入有关。
油基泥浆导电性较差,普通电极类仪器可能无法 正常工作,需要根据泥浆类型选择感应类或油基泥浆专用仪器。
自然电位主要与地层水和泥浆滤液之间的离子浓度差有关。泥浆矿化度、电阻率及化学处理剂发生变化,可能改变自然电位曲线的幅度和基线。
在油基泥浆或高阻泥浆中,自然电位通常较弱,甚至难以形成有效曲线,不宜单独依靠自然电位判断渗透层。
密度仪器要求探头尽量贴近井壁。厚泥饼、井径扩大及仪器偏心会增加探头与地层之间的距离,使测量结果受到泥浆和泥饼影响。
含重晶石泥浆对密度及光电吸收测量影响尤其明显。当密度校正曲线明显增大时,应结合井径和泥浆密度判断,避免把井眼影响误认为地层孔隙度变化。
中子测井对井眼流体的含氢量较为敏感。水基泥浆、油基泥浆和气侵泥浆具有不同的含氢特征,会造成不同程度的井眼影响。
泥浆气侵后,井眼流体含氢量下降,可能使中子孔隙度异常降低。井径扩大时,仪器受到井眼流体的影响进一步增强,必须进行井眼环境校正。
声波测井依赖仪器、泥浆和井壁之间的声耦合。泥浆中存在气泡时,声波能量会明显衰减,容易出现波形紊乱、到时不稳定和周期跳跃。
高固相泥浆及严重井壁粗糙也会增加声波散射,使纵波和横波识别困难。因此,气侵井段应先恢复泥浆均匀性和井筒稳定,再进行声波测井。
微电阻率成像仪器要求极板与井壁保持良好接触。厚泥饼、井壁台阶及高黏度泥浆可能造成极板悬空,使图像出现纵向空白条带、模糊或对比度下降。
油基泥浆中还需要使用相应的油基泥浆成像仪器,不能直接套用水基泥浆条件下的测量方案。
泥浆滤液侵入会改变近井地带流体分布,影响核磁共振孔隙度和弛豫时间分布。部分油基泥浆滤液还可能与地层原油信号发生重叠,增加流体识别难度。
解释时应结合侵入时间、泥浆体系、滤失量和电阻率资料综合判断。
测井前应循环处理泥浆,使井筒内泥浆性能尽量均匀,并确保井底返出物清洁。重点做好以下工作:
泥浆性能变化会通过“井眼状态、仪器运动和测量环境”三条路径影响测井作业。现场控制的核心不是单纯降低黏度或减少密度,而是在保证井控和井壁稳定的前提下,使泥浆具备良好的携岩能力、适当的流动性、较低的失水量和稳定的电学性质。
只有将泥浆性能记录、井径资料、仪器状态和测井曲线结合起来分析,才能准确区分地层真实响应与泥浆环境影响,提高测井作业安全性和资料可靠性。