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硅晶片激光加热仿真+专属工具箱预告

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硅晶片激光加热仿真+专属工具箱预告

在半导体制造领域,硅晶片的加热工艺直接影响芯片的性能与良率,激光加热因具备精准控温、局部加热的优势,成为硅晶片加工中的关键技术环节。而仿真技术作为优化工艺参数、降低实验成本的核心手段,选择一款高效且精准的仿真软件至关重要。

 
 

本文将带您一览,如何运用 midas NFX 这款强大的多物理场仿真平台,对硅晶片的激光加热过程进行精确建模与分析。我们将略过繁琐的理论公式,聚焦于清晰的仿真逻辑与操作流程,展示NFX如何将复杂的物理问题转化为直观的可视化结果。

同时预告下期核心福利:激光加热能量函数专属工具箱,助力快速复现同类场景。

本文案例背景及基础物理模型,参考自多物理场仿真领域的相关公开技术资料。我们将完全基于midas NFX的建模环境进行重现与解析。

   

一、仿真背景与核心目标

硅晶片激光加热是半导体封装、表面结构化中的关键工序,典型场景为:2英寸硅晶片在平台上以10 RPM转速旋转,10 W激光沿径向内外移动,对晶片加热1分钟。由于晶片热绝缘条件良好,仅通过顶面热辐射向20℃的腔室壁散热。

 
 

案例说明

本次仿真核心目标的是:捕捉晶片瞬态温度分布,输出全程最高/最低/平均温度变化,为激光扫描路径、功率参数优化提供数据支撑,避免局部过热导致晶片变形或性能衰减。

midas NFX作为集成化有限元平台,支持结构、热、流体多物理场耦合,全中文界面降低操作门槛,且能通过CPU+GPU并行运算提升仿真效率,完美适配此类瞬态热分析需求。

   

二、midas NFX仿真全流程实操

01几何建模

创建圆柱体模拟硅晶片,半径设为0.0254 m(2英寸),厚度2.75×10⁻⁴ m(275 μm);

 
 
 
 

02材料属性定义

材料属性定义:在固体CFD材料库中选择硅材料,也可以自行修改参数。

 
 

03单元定义:3D CFD单元类型

 
 

04网格划分:兼顾效率与精度

采用四面体网格,厚度方向仅保留1个薄单元,平面方向控制单元尺寸合理性,既保证计算效率,又能精准捕捉移动热源的温度梯度变化。

 
 

05边界条件与载荷施加

a.激光热源施加:

将激光模拟为表面移动热源,采用高斯分布定义热通量,激光焦点沿x轴做三角波往复运动,光斑半径0.002 m。此处通过变量与波形函数联动,实现热源随时间、空间的动态变化(具体函数构建见下期工具箱)。

 
 
 
 

b.热辐射边界:

在晶片顶面设置热辐射条件,定义环境温度为20℃,关联表面辐射率参数,仅考虑顶面与腔室壁的热交换,忽略其他方向热损耗。激光工作波长下,吸收率等于辐射率。

 
 

一般情况吸收率等于辐射率

c.旋转域设置:

晶圆旋转可定义在激光运动路径中,晶圆顺时针旋转速度10RPM,即激光相对运动逆时针速度10RPM。此处无需定义旋转域。

06求解设置

a.求解参数配置:

选择瞬态分析类型,设置分析时长为60 s(1分钟加热过程),输出时间步按需求调整,确保捕捉温度峰值时刻的数据。

 
 

b.定义监控:

分析前定义监控点/面,可以提取全程最高、最低、平均温度等曲线。

 
 

07后处理

求解完成后,利用NFX丰富的后处理功能,我们可以获得极具工程价值的可视化结果:

 
 

监控结果:晶圆最大温度

 
 

NFX:t=60s, Tmax=341℃,Tmin=250℃


 
 
 

reference:t=60s, Tmax=343℃,Tmin=250℃

 
 

与参考资料对比误差(最大误差<8%)

结论:两者精度高度吻合,误差处于工程可接受的精度范围内。

   

三、midas NFX适配半导体仿真的工具

NFX 是一款功能强大的多物理场仿真软件,能够对流体流动、结构力学等进行高精度的仿真分析。该软件融合了易用性、全面性与专业性三大优势,提供多语言界面、流程引导式操作菜单以及可定制的仿真环境,能够帮助工程师快速掌握并投入使用。在功能层面,NFX支持结构、热、流体之间的耦合仿真,依托自研求解器并结合多线程网格划分与GPU加速技术,可高效完成从晶圆级、芯片级到封装级的大规模仿真任务。凭借面向半导体领域的专业技术资料与多渠道支持服务,NFX已成为半导体企业实现分析驱动设计、提升研发效率的可靠合作伙伴。

 
 
   

四、重磅预告:NFX激光加热能量函数工具箱

本次仿真中用到的“激光加热能量函数”,是我们针对半导体激光加工场景定制开发的工具箱。为帮助更多工程师快速复用该仿真能力,下一期公众 号内容将正式推出“NFX激光加热能量函数工具箱”!

该工具箱预设了高斯分布激光,可一键复 制NFX格式到midas NFX 中使用。无需手动编写函数,能大幅提升激光加热类仿真的效率与精准度,助力大家快速搞定同类课题。

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来源:midas机械事业部
半导体芯片NFXMIDAS参数优化理论材料控制
著作权归作者所有,欢迎分享,未经许可,不得转载
首次发布时间:2026-01-30
最近编辑:6月前
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