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收藏!教科书上没讲清楚的MOS管开关重点,今天全交代

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今天咱们来聊聊产品设计中最常见却又最关键的元器件——MOS管。可以说,几乎所有的电子设备都离不开这个它。虽然它看起来原理简单,但实际工作起来却暗藏玄机。特别是它的开关过程,平时用着没事,一旦出问题往往很多时候让人摸不着头脑。下面咱们就用最通俗的语言,带大家一起了解MOS管开关的过程。

在讲之前,大家一定要知道MOS管的三个寄生电容:Cgs,Cgd,Cds,这对于后面的分析有很大的帮助。


011

MOS管的开通过程  

说一个不恰当的比喻,MOS管的开通就像我们早上起床的过程,可不是"叮"的一下就完成的,而是分四个步骤循序渐进:


MOS管开启的第一个阶段可以这样理解:

栅极电压从零开始慢慢上升,就像给一个容器注水,大部分电流都用来给C_GS这个"主容器"充电,同时也有少量电流流到C_GD这个"副容器",随着栅极电压升高,C_GD两端的电压会稍微降低一些,这个阶段MOS管还没开始导通,所以漏极的电流和电压都保持不变,只有当栅极电压充到V_TH这个临界值时,MOS管才具备导通的条件。

这个准备阶段之所以叫"开通延时",就是因为虽然栅极在充电,但MOS管还没真正开始工作,存在一个时间延迟。



MOS管开启的第二阶段工作原理如下:

栅极电压继续升高,直到达到米勒平台电压值(V_GS,Miller),此时漏极电流开始随栅极电压线性增加,这个阶段MOS管工作在放大区,电流大小直接取决于栅极电压。栅极电流继续为C_GS和C_GD两个电容充电,在输出端可以看到:

漏极电流明显增大,但漏源电压仍保持关断时的水平(V_DS,off)。

这个阶段是MOS管从截止状态向完全导通过渡的关键过程。


MOS管开启的第三阶段工作原理如下:

当栅极电压达到V_GS,Miller时,MOS管已能承载全部负载电流,并联的二极管完全关断,此时开始出现两个重要现象:漏极电压开始快速下降,栅源电压却保持稳定(形成米勒平台),产生这种现象的原因是:所有栅极驱动电流都转向给C_GD电容充电,这个充电过程促使漏极电压快速变化,栅极电压因此被"钉住"在米勒平台电压。

在这个阶段,漏极电流由外部电路决定,保持恒定,漏源电压持续下降,栅极电压维持不变,这个阶段展现了MOS管特有的米勒效应,是开关过程中的关键转折点。


MOS管开启的第四阶段工作原理如下:

这是开通过程的最后阶段。栅极电压从米勒平台电压(V_GS,Miller)继续升高,最终达到驱动电压(V_DRV)的满幅值。

这个阶段的关键变化:栅极电流同时给C_GS和C_GD两个电容充电,导通沟道被充分增强,导通电阻(R_DS(on))降到最低值。

电路表现特点:漏极电流保持稳定(由外部电路决定),漏源电压因导通电阻降低而小幅下降,栅极电压达到最大驱动电平,最终栅极电压值直接影响导通电阻大小,电压越高,导通电阻越小,但需要考虑器件耐压和功耗限制。

这个阶段使MOS管进入完全导通状态,导通性能达到最佳。


021

MOS管的关断过程  

MOS管的关断过程说明基本上与上文所述的开通过程相反。也是分四个步骤来完成关断过程:


阶段1(关断延迟阶段):

这个阶段主要是给MOS管内部的Ciss电容放电,直到电压降到米勒平台电平。在这个过程中,放电电流会流过栅源电容(Cgs)和栅漏电容(Cgd)。此时会出现两个现象:

1、由于过驱动电压在减小,漏极电压会稍微上升一点;

2、漏极电流保持稳定不变。


阶段2(电压上升阶段):

此时,MOS管的漏极-源极电压,从 IDRDS(on) 上升到最终的关断电压(

VDS,off),这个电压会被寄生二极管钳位在输出电压。


在这个阶段,栅极电压会保持稳定(即米勒平台阶段),栅极电流全部是 CGD 的充电电流,因为栅源电压不变。



阶段3(电流下降阶段)

此时,寄生二极管已经导通,为负载电流提供了另一条通路。栅极电压从米勒平台

 VGS,Miller继续下降到阈值电压VTH。


这个阶段的主要特点是:

1、栅极电流主要来自 CGS (栅源电容)放电,因为CGD(栅漏电容)在上个阶段已经充满电了。

2、随着栅源电压下降,MOS管进入线性工作区,漏极电流逐渐减小到接近零。

3、由于寄生二极管已经正向导通,漏极电压会稳定在最终的关断电压(VDS,off)不再变化。



阶段4(完全关断阶段):

这是MOS关断的最后一步。栅极电压 VGS 从阈值电压VTH继续降到0V,把输入电容的电彻底放完。和前一阶段类似,栅极电流主要还是靠CGS(栅源电容)放电提供。


此时MOS管已经完全关断,漏极电流保持为零(因为已经彻底关断),漏极电压维持在关断状态的值不变。



031

总结  

总结来说,MOS管通过四个阶段在导通和关断状态之间切换。各阶段的持续时间取决于三个关键因素:寄生电容大小电容电压变化量以及栅极驱动电流的强弱。这凸显了在高频开关应用中,合理选型和优化栅极驱动设计的重要性。

需要注意的是,厂商提供的测试数据基于特定条件和电阻负载,与实际电感负载应用中的开关性能存在明显差异,因此不同型号器件的数据较难直接比较。


总之,理解了以上MOS管的开关过程,对于我们整个产品的分析过程是很有帮助的。

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来源:硬件笔记本
电路电子
著作权归作者所有,欢迎分享,未经许可,不得转载
首次发布时间:2025-12-03
最近编辑:8月前
硬件笔记本
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