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12 项集成电路电磁兼容国家标准通过审查

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第2174期
全国集成电路标准化技术委员会(SAC/TC599)于2024年3月22日在北京召开了标委会一届二次全体委员会议,会上审查并通过了中国电子技术标准化研究院主办的12项集成电路电磁兼容国家标准,具体审查标准如下。

序号

项目名称

计划编号

国/行标      

采标情况

1

集成电路 电磁发射测量 第1部分: 通用条件和定义      

20221350-T-339

国标

IEC 61967-1:2018

2

车辆集成电路电磁兼容试验通用规范

20214062-T-339

国标

自主制定

3

集成电路电磁兼容建模 第3部分:集成电路电磁干扰特性仿真模型 辐射发射建模(ICEM-RE)      

20213161-T-339

国标

IEC 62433-3:2017

4

集成电路 电磁抗扰度测量 第9部分:辐射抗扰度测量 表面扫描法      

20214711-T-339

国标

IEC TS 62132-9:2014

5

集成电路 电磁发射测量 第2部分:辐射发射测量 TEM小室和宽带TEM小室法      

20213162-T-339

国标

IEC 61967-2:2005

6

集成电路电磁兼容建模 第2部分:集成电路电磁干扰特性仿真模型 传导发射建模(ICEM-CE)      

20213160-T-339

国标

IEC 62433-2:2017

7

集成电路 电磁抗扰度测量  第5部分:工作台法拉第笼法      

20214061-T-339

国标

IEC 62132-5:2005

8

集成电路 电磁抗扰度测量  第3部分:大电流注入(BCI)法      

20214060-T-339

国标

IEC 62132-3:2007

9

集成电路 电磁发射测量 第5部分:传导发射测量 工作台法拉第笼法      

20214063-T-339

国标

IEC 61967-5:2003

10

集成电路 电磁发射测量 第8部分:辐射发射测量 带状线法      

20214064-T-339

国标

IEC 61967-8:2011

11

集成电路  电磁发射测量  第3部分:辐射发射测量  表面扫描法      

20214069-T-339

国标

IEC TS 61967-3:2014

12

集成电路 电磁发射测量 第6部分:传导发射测量 磁场探头法      

20214066-T-339

国标

IEC 61967-6:2008

参会委员在听取标准编制组就标准基本情况、编制过程、征求意见及其汇总处理情况、预审和意见处理情况等汇报后,认为该12项标准的编制过程符合国家标准编制程序,技术内容合理、具有可操作性,处于国内先进水平。参会委员一致同意通过对该12项标准的审定,同意编制工作组根据本次会议的意见修改后提交齐套报批资料。

来源:电磁兼容之家
电路电磁兼容通用电子试验
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首次发布时间:2024-04-21
最近编辑:1月前
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