在PCB设计中,20H原则是一个常被提及的经验法则,旨在抑制电源层与地层间的边缘辐射。但它是否在任何情况下都有效?过度依赖或错误应用可能反而带来反效果。
本文将通过一个完整的CST仿真案例,带你一步步验证20H原则的有效性,用数据来指导设计。
在多层PCB中,电源层与地层之间会形成边缘电场,向外辐射电磁干扰,影响EMC性能。
20H原则正是为解决此问题而提出:要求电源层(Power Layer)的边缘相对于相邻的地层(Ground Layer)向内缩进至少20倍的两层间介质厚度(H)。
H:电源层与地层之间的介质厚度。
缩进效果:将电源层内缩,使电场被限制在地层范围内,从而抑制边缘辐射。

本文通过CST对PCB进行对比仿真(应用与未应用20H原则)得对外辐射








希望这篇文章能帮助你更好地理解和应用20H原则。如果在仿真过程中遇到问题,欢迎在评论区留言交流!