一、仿真目标1.1准确计算道钉(中间PE发光体、内部磁感应体)在集卡撞击过程中所受到的最大冲击力;1.2详细分析道钉关键部位的变形情况;1.3数据分析道钉在撞击过程中出现的薄弱环节,进行道钉的结构优化(拓扑优化);1.4 通过数据分析道钉的固定方式(道钉胶、膨胀螺丝)的可靠性。