首页/文章/ 详情

Abaqus芯片的BGA焊球建模及其失效仿真

2年前浏览3855
极简|科技|有感|干货
Ball-Grid-Array (BGA) Solder Joints 是高科技、交通运输和航空等领域芯片制作工艺中,重要的一环。振兴中华,自助开发芯片势在必行。
图片
BGA焊点的设计挑战,主要为疲劳失效Fatigue and Failure:
图片
  • 热膨胀系数(CTE)的不一致,导致热性能不匹配。
图片
  • 低周疲劳:循环热载荷、空洞、界面裂纹
图片
焊球参数化建模。采用BGA Plugin for Abaqus/CAE插件,对焊球进行参数化建模。
图片
网格划分先划分局部、再阵列、最后布尔合并网格。
图片
图片
材料参数采用与温度相关的动态硬化弹塑性模型,同时考虑材料的各向异性。
图片图片
当然,也可采用Abaqus内嵌的Anand creep model进行蠕变分析。
图片
图片
寿命预测采用 基于应变的Coffin-Mason 准则,对
图片
分析结果
图片
图片
总结
图片
理论科普芯片焊接Abaqus
著作权归作者所有,欢迎分享,未经许可,不得转载
首次发布时间:2021-05-21
最近编辑:2年前
江丙云
博士 | CAE专家 C9博士,4本CAE专著,SIMULIA冠军...
获赞 693粉丝 5002文章 238课程 17
点赞
收藏

作者推荐

未登录
还没有评论

课程
培训
服务
行家

VIP会员 学习 福利任务 兑换礼品
下载APP
联系我们
帮助与反馈