数字光刻技术作为微米级芯片制造的核心支撑,其中投影物镜的成像质量直接决定了芯片的加工精度与性能。相较于传统光刻,基于数字微镜器件(DMD)的数字光刻技术具备低成本、高效率、灵活性强等显著特点,已成为微米级芯片制造的主流方案。
华中科技大学光学与电子信息学院张学明团队基于ZEMAX光学设计软件,成功设计出一款高性能微米级数字光刻微缩投影物镜[1]。该设计以0.625μm的超高分辨率、0.0159%的超低畸变、稳定的光学性能,为微米级芯片制造提供了全新解决方案。本文将深度解析该技术的设计理念、仿真过程与核心优势,展现其在半导体制造领域的巨大应用潜力。
设计背景与核心意义
近年来,国内数字光刻投影物镜研究取得一定进展:2013年湖北工业大学胡思熠设计出分辨率1.2μm的光刻物镜[2],广东工业大学刘海勇团队同期研发出分辨率3.5μm的微缩物镜[3],2016年邝建团队将分辨率提升至2μm[4]。尽管技术持续进步,但现有设计仍存在分辨率不足、畸变控制不佳、照明均匀性欠缺等问题,难以满足高精度微米级芯片的制造需求。
在芯片制造过程中,投影物镜的分辨率直接决定芯片特征尺寸的最小极限,畸变则影响电路图案的精准复刻,而光照不均匀会导致光刻线条一致性差,这些因素共同制约着微米级芯片的性能与良品率。因此,研发一款兼具高分辨率、低畸变、匀光效果优异的投影物镜,对推动微米级芯片制造技术升级具有重要现实意义。
核心设计理论与技术指标
1)系统工作原理
为解决基板离焦导致的倍率误差问题,该投影物镜采用双远心光路结构,整体类似4F成像系统。前组透镜的后焦面与后组透镜的前焦面重合,视场光阑位于该重合平面,分别将前组、后组透镜成像于物方、像方无穷远。这种结构能确保入射与出射主光线始终与光轴平行,即便物距或像距发生变化,系统放大倍数也保持稳定,为成像精度提供基础保障,其结构示意图如图1所示。

图1 双远心结构示意图
2)关键技术指标计算
基于光刻工艺需求与光学设计原理,通过计算确定核心技术指标:
分辨率:依据瑞利公式与截止线对数要求,设计分辨率≤1μm,最终实现0.625μm;
放大倍率:结合DMD器件尺寸(14μm)与分辨率需求,确定放大倍率为-0.0714;
数值孔径:物方数值孔径0.02,像方数值孔径0.3,满足特征线宽加工要求;
焦距:前组焦距308.12mm,后组焦距22mm,保障后组具备充足工作距离。
这些指标为后续光学结构设计与仿真优化提供了明确的性能边界,确保设计方案兼具科学性与实用性。
基于ZEMAX仿真优化
该设计全程采用ZEMAX光学设计软件进行建模、优化与性能分析,通过分阶段设计、逐步迭代的方式,实现光学系统性能的极致提升。
1)物镜前组设计与优化
前组透镜采用双胶合透镜结构,具有焦长短、放大率大、成像质量好的特点,适合与后组透镜高效耦合。初始设计阶段,设置0、0.5、1三个视场,选取405nm光刻常用波长,在光阑后添加厚度为0的近轴面模拟聚焦效果。
优化前,前组子午场曲达16.5μm,畸变约0.0523%(图2),像差超出技术指标。通过开放4个曲面的曲率和厚度作为优化变量,以有效焦距和场曲为核心优化目标,最终将子午场曲降至3.8μm,畸变缩减至0.028%(图3),在有效空间频率内MTF(调制传递函数)均超过70%(图4),为整体系统性能奠定基础。

图2 前组优化前场曲/畸变

图3 前组优化后场曲/畸变

图4 前组优化后的MTF
2)物镜后组设计与优化
后组透镜需同时满足像方数值孔径0.3与短焦距(22mm)的要求,选用Petzval结构作为初始方案,该结构能有效校正畸变像差。为提升优化自由度,将Petzval结构的2片胶合面分开并增加空气间隔,保证结构对称性以校正彗差与畸变。
针对大视场下Petzval结构易产生严重球差的问题,团队引入海普冈结构平衡像差缺陷,最终形成4片透镜+海普冈结构的组合设计,其结构如图5所示。该结构不仅扩大了有效视场范围,还能高效校正彗差、畸变等多种光线像差,满足后组光学性能要求。

图5 后组整体结构示意图
3)整体系统优化
将优化后的前后组透镜数据组合,进入整体优化阶段:
以球差为核心优化函数,开放各面半径和厚度为变量,确保MTF≥0.4,满足基础清晰度要求;
加入畸变和场曲操作数,设置场曲权重0.5、畸变权重1,重点优化畸变像差,开放对像差贡献较大的球面参数;
以海普冈结构关键面的半径和厚度为变量,手动增大弯月形透镜厚度以消除像散和场曲,缩短优化时间并避免局部最优解;
基于赛德尔系数筛选引入像差较大的面,微调半径和厚度参数,最终形成整体光学结构(图6)。

图6 优化之后的二维结构
整体优化后,系统点列图RMS半径均在2μm以内(图7),截止线对数达标,分辨率实现0.625μm(图8),畸变降至0.0159%,最大子午场曲3.6μm(图9),完全达到设计预期。

图7 优化之后的点列图

图8 优化之后的MTF

图9 优化之后的场曲/畸变
4)色差分析与微透镜阵列设计
考虑到激光器输出存在微小线宽,团队在ZEMAX中进行色差分析:设置线宽1nm,以405nm为中心波长,添加404.5nm和405.5nm参考光。分析结果显示,全视场波像差均在0.25λ以内(图10),MTF虽有下降但仍≥40%(图11),系统对微小色差具备良好容忍度。

图10 考虑色差的波相差

图11 考虑色差的MTF
为解决高斯光束光照不均匀问题,团队在ZEMAX非序列模式下设计微透镜阵列匀光系统:选用高斯光源,设置光轴为z轴,微透镜阵列采用20×20排列,搭配OKP-1材质聚焦透镜,通过探测器监测确定像面位置(图12)。该系统能将高斯分布的激光转化为均匀分布的光束,非相干辐照度集中于0.51~0.90区间(图13),有效消除光照不均匀影响。

图12 匀光系统结构

图13 匀光之后的非相干辐照度分布
5)公差分析与量产可行性验证
为确保设计方案具备实际生产可行性,通过ZEMAX进行全面公差分析:设置透镜曲率半径误差±0.01mm,元件偏心倾斜±0.01°,选用几何MTF平均曲线为评价标准,将误差放大10倍以兼顾分析精度与可读性。
采用蒙特卡洛算法进行仿真验证,生成满足公差要求的随机镜头数据并按正态分布评估。结果显示,前10项误差主要来自非标准面加工偏心,实际误差仅为仿真值的1/10,90%的成品MTF>0.7692,完全满足工业加工精度要求,证明该设计方案具备量产潜力。
性能优势与技术突破
1)核心性能优势
相较于现有技术,本设计具备三大显著优势:
超高分辨率:实现0.625μm分辨率,远超此前同类设计的1.2μm~3.5μm水平,能完成更精密的芯片结构加工;
超低畸变:成像畸变控制在0.0159%,有效保障电路图案的精准复刻,提升芯片性能一致性;
匀光效果优异:通过微透镜阵列设计,将高斯光束转化为均匀照明,解决光刻线条高度均一性问题,降低良品率损耗。
同时,系统具备良好的环境适应性与工艺兼容性,对激光器输出线宽带来的微小色差具有容忍度,公差分析验证了量产可行性,为工业化应用奠定基础。
2)关键技术突破
本设计的技术创新集中体现在两方面:一是双远心+海普冈组合结构设计,通过前组双胶合透镜与后组Petzval-海普冈复合结构的优化耦合,实现了高分辨率与低畸变的协同提升,突破了传统结构难以兼顾多性能指标的瓶颈;二是微透镜阵列与聚焦透镜的一体化匀光设计,在ZEMAX非序列模式下完成精准建模与仿真,有效解决了光刻照明均匀性这一行业共性问题。
参考文献: