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搞硬件这么久,还没学会EMI测试?来看看差模和共模信号是如何分离的

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大家好,我是EE小新。
去年制作了一个LISN和CM/DM分离器,电路设计来自伍尔特和EEVblog,但是由于CM/DM分离器需要磁环绕制,对于新手来说不是很方便,也不便于学习交流。
EMC传导共模差模分离器和LISN,有人找到DIY图纸吗?
EMC传导测试全靠LISN,CISPAR 25/ISO7637一致性测试比较靠谱的目前就是这两种
今天我在R&S的文章中发现了一个取代磁环绕制线圈的方法,应该是用共模电感,但是具体型号不清楚,大家可以看看。

1. 什么是EMI?

EMI = ElectroMagnetic Interference

设备(被测设备)的非预期/不希望的射频发射

2. EMI来源

  • 开关电源导致的电磁干扰问题最多


     


  • 高速设计会引入EMI问题

  • PCB布局(堆叠)不良,导致EMI恶化

  • 射频类产品会影响EMI

  • 传输路径的不连续性以及谐振

  • 高次谐波引起的EMI问题


3. 看看EMI的三要素

4. EMI辐射测试

5. EMI传导测试

6. 共模和差模信号传输路径

7. 共模和差模的理论

8. 硬件解决方案(这是CM/DM分离器的核心)

9. 最后还有一个伍尔特的滤波器测试套件


确实有时候并不是自己的能力不行,而是你没有找到合适的资料,当99%的资料都是公开的时候,而你找不到,没有参考,最后很难做出满意的产品。

最后说下从业十年做硬件的心得吧,除了每天处理项目上的事情外,还需要不断的提高自己的水平,完善自己的知识体系。好在事不必躬亲,平时除了参考芯片供应商提供的电路图或者现有产品的成熟设计外,也可以看看我为大家整理的资料、


不管遇到什么困难,都要记住,它们都是暂时的,唯有坚持是永恒的。

来源:EEDesign
MAGNET电源电路电子芯片理论
著作权归作者所有,欢迎分享,未经许可,不得转载
首次发布时间:2025-10-31
最近编辑:7小时前
EE小新
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