本文针对PCB(印制电路板)焊点在高低温热循环下的失效问题,提出了一种在芯片边角下加锡块的改进设计方案。通过实验测得FR-4的弹性模量和热膨胀系数,运用有限元方法模拟PCB在高低温循环下的应力应变,并用修正的Coffin-Manson经验方程计算焊点的热循环寿命。结果表明,改进设计显著降低了焊点的最大等效塑性应变,提高了热疲劳寿命。
关键词:PCB;热循环;有限元模拟;疲劳寿命
印制电路板(PCB)是重要的电子部件,其在高低温循环中交替膨胀和收缩,由于芯片、焊点和基板材料热膨胀系数的不匹配,内部会产生热应力和应变,长期作用下导致焊点因疲劳而失效。传统结构的PCB焊点寿命不足500次循环,本文提出改进设计,通过在芯片边角下加锡块,限制焊锡与上下板之间的变形不协调,以提高焊点寿命。
PCB高低温循环热冲击试验采用的加载曲线如图1所示,温度范围为-40℃到125℃,升降温速率为20℃/min,保温时间为30分钟。PCB在循环中产生热应力和应变,导致焊点疲劳破坏,常见的焊点失效形式如图2所示。
图1 热循环加载曲线
图2 PCB焊点破坏形式
热应力仿真需要确定PCB各种材料的热力学参数,包括密度、弹性模量、泊松比、热膨胀系数等。部分参数由厂商提供,而FR-4的弹性模量和热膨胀系数则通过实验测定。
通过拉伸实验测定FR-4在不同温度下的弹性模量。实验选用带恒温箱的微机控制电子万能试验机,试样和仪器如图3所示,应力-应变曲线如图4所示。实验结果列于表1。
图3 拉伸实验试样及仪器
图4 应力-应变曲线
温度T(℃) | 弹性模量E(GPa) |
---|---|
-40 | 8.28 |
0 | 8.01 |
25 | 7.92 |
60 | 6.71 |
125 | 6.37 |
用热膨胀仪测定FR-4在25~125℃下的热膨胀系数,分别测量平面方向(x/y)和厚度方向(z)。试样和仪器如图5所示,热膨胀系数变化曲线如图6所示,结果见表2。
图5 热膨胀实验试样及仪器
图6 热膨胀系数变化曲线
温度T(℃) | x/y方向热膨胀系数(10⁻⁶/℃) | z方向热膨胀系数(10⁻⁶/℃) |
---|---|---|
-40 | 14.3 | 51.2 |
25 | 14.3 | 51.2 |
55 | 17.2 | 74.3 |
125 | 18.7 | 81.3 |
根据PCB实际结构,建立传统结构模型(model 1)和边角加锡块的改进模型(model 2)。两模型均由芯片、焊锡、铜层和FR-4层组成,考虑对称性,建立1/4有限元模型,如图7所示。
图7 三维模型
芯片材料、铜和FR-4均采用线弹性模型,焊锡材料SAC305表现为粘塑性,满足Anand本构模型的以下方程:
其中, ξ 为应力乘子, εp 为非弹性应变率,A 为指数因数,Q 为激活能,R 为普适气体常数,T 为 绝对温度,m 为应变率敏感指数. 变形抗阻 s 的演化方程表示为:
其中, s 为系数,n 为变形阻抗饱和值的应变率敏感指数. 根据上述 Anand 本构方程知,一共有 9 个参数:s0 ,Q,A,ξ,m,h0 ,s,n 以及 a, 各项数值 见表 4.
表3列出了PCB材料的线弹性参数,表4为SAC305的Anand本构参数。
表3 线弹性材料参数
表4 焊锡SAC305粘塑性Anand参数
PCB表面与内部最大温差可达6~8℃,如图8所示。
图8 PCB温度分布
焊点von Mises应力云图如图9,最大应力集中在边角焊点根部。模型1的等效应力稍大于模型2,如图10所示;模型1的塑性剪切应变范围也大于模型2,如图11所示。
图9 von Mises应力云图
图10 等效应力变化曲线
图11 塑性剪切应变变化曲线
根据修正的Coffin-Manson方程,可评估焊点的热疲劳寿命:
式中, Nf 为焊点的热疲劳寿命,Δγp 为每个热疲劳周期中焊点内累积的最大塑性剪切应变范 围,εf 为疲劳韧性系数,这里取 0.325;c 为疲劳韧性指数,与热循环的温度和频率有关,如式 (2)所示:
计算结果见表5。
表5 两模型疲劳寿命预测情况
模型 | 应变范围Δγₚ | 预测寿命Nₓ | 结果 |
---|---|---|---|
模型1 | 0.049 | 256次 | 不合格 |
模型2 | 0.029 | 892次 | 合格(>500) |
PCB内部温差加剧了变形不协调。
边角焊点根部为应力集中区域。
改进模型中,corner pad有效减小了焊点处的应力和应变。
改进模型的疲劳寿命大幅提高,达到了质量标准。