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天线测量远场与近场的区别……

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随着科学技术的发展,天线被人们广泛的应用之后,天线的测量也成为了人们关注的问题,各种各样的天线也是层出不穷,这对天线的测量要求也渐渐的增大,天线的分析和设计也是离不开天线的测量,为了能够详细的了解天线的各方面的参数性能,且对天线测量的精确程度就显得非常重要,天线测量是分为天线远场测量和天线近场测量二种,刚开始人们最先应用的是远场测量,但是近些年天线的近场测量技术应用也是越来越广泛。那么天线近场测量和远场测量有哪些区别的呢。


  按照天线场区的划分,天线测量系分为近场测量系统和远场测量系统。


  1.近场测量系统

  近场测量在天线辐射近场区域实施。在三至五个波长的辐射近场区,感应场能量已经完全消退。采集这一区域被测天线辐射的幅度和相位数据信息,再通过严格的数学计算就可以推出被测天线测远场方向图。


  2.远场测量系统

  远场测量系统按照使用环境分为室内远场测量系统和室外远场测量系统。

  室内远场在微波暗室中进行,暗室四周和上下铺设吸波材料来减小电磁反射。如果暗室条件满足远场测量条件,可选择传统远场测量法,如果测量距离不够远场条件,可以选择紧缩场,通过反射天线在被测天线处形成平面电磁波。

  室外远场需要比较长的测量距离,一般用天线高架法来尽量减小地面反射,其他架设方法还有地面反射法和斜距法。室外远场测量需要在合适的外部环境和天气下进行,同时,室外远场对安全和电磁环境有较高要求。


  按照扫描方式的不同,常用的近场测量系统可以分为平面近场系统、柱面近场系统和球面近场系统。

  (1)近场测量系统

  平面近场测量系统在辐射近场区的平面上采集幅相信息,这种类型的测试系统适用于增益>15dBi的定向天线、阵列天线等,最大测量角度<±70º。

  (2)柱面测量系统

  柱面近场测量系统在辐射近场区的柱面上采集幅相信息,这种类型的测试系统适用于扇形波束和宽波瓣的天线。

  (3)球面测量系统

  球面近场测量系统在辐射近场区的球面上采集幅相信息,这种类型的测试系统适用于低增益的宽波瓣或全向天线。


来源:电磁兼容之家
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首次发布时间:2025-09-29
最近编辑:7小时前
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电磁屏蔽室设计技术与工程应用手册 来源:电磁兼容之家

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