摄像光学设计中鬼像频发？OAS 软件深度解析破难题
简介
在光学系统设计与优化过程中，鬼像的出现会严重影响成像质量，因此精确分析鬼像对于提升光学系统性能至关重要。本案例借助 OAS 光学软件，针对双高斯光学系统开展鬼像分析工作，旨在精准定位和深入剖析鬼像产生的根源及影响，为后续系统改进提供有力依据。
双高斯光学系统因其出色的成像性能，在众多光学设备如相机镜头、望远镜等领域广泛应用。然而，复杂的光学结构使其易受鬼像干扰。在本次研究中，我们聚焦于该系统的鬼像问题，期望通过 OAS 软件的强大功能，实现对鬼像的全面洞察。
光源设置
本案例采用了三个平行光源，每个光源的半孔径设定为 16.665mm。这一特定的半孔径尺寸是基于实际应用场景和光学系统的设计参数综合确定的，能够较为真实地模拟光线在实际环境中的入射情况。
光源的波长分别为 0.486μm、0.587μm、0.656μm，对应的颜色依次为 Lime（绿黄色）、Red（红色）、Blue（蓝色）。不同波长的光线在光学系统中的传播特性各异，通过设置多波长光源，可以全面评估系统在不同光谱范围内对鬼像的响应情况。
探测器设置
为准确捕捉鬼像信息，在 OAS 软件中对鬼像探测器进行了精细设置。特别设置了光线过滤条件，将分裂级次设定为大于等于 2。分裂级次是鬼像分析中的关键参数，通过限制分裂级次，可以有效筛选出具有较高能量和潜在影响较大的鬼像光线，排除低级别、对成像质量影响较小的杂散光干扰，从而更有针对性地对主要鬼像进行分析研究。
（双高斯鬼像分析的三维追迹图）
（双高斯鬼像分析的探测器结果图）
（双高斯鬼像分析的鬼像探测器结果图）
总结
本案例利用 OAS 光学软件成功完成了对双高斯光学系统的鬼像分析。通过精心设置光源参数和鬼像探测器条件，全面、准确地获取了鬼像信息。分析结果为深入理解双高斯系统鬼像产生机制提供了有力支持，同时也为后续的光学系统优化设计指明了方向。OAS 软件在鬼像分析中的高效性和精确性得到充分验证，为光学领域的研究和工程实践提供了可靠的技术手段。
