芯片性能突破的尽头,是什么在制约系统效能?当单颗芯片功耗突破300瓦,信号速率飙至112G,传统设计方法 正面临全面挑战。
行业趋势
随着5G、人工智能和自动驾驶等技术的快速发展,电子系统正朝着更高集成度、更高频率和更大功耗的方向演进。多物理场耦合问题已成为制约产品性能的关键因素,而传统单一领域的设计验证方法越来越难以满足复杂系统的需求。CPS协同仿真正是应对这一行业变革的重要技术路径,本书的出版恰逢其时。
《Ansys芯片-封装-系统协同仿真:方法、验证与实践》正是为解决行业痛点而生。本书由侯明刚、褚正浩编著,首次系统性地介绍了芯片-封装-系统三级协同仿真方案,为工程师提供了打破设计壁垒的全新方法论。
通过CPS协同仿真,芯片工程师能够生成代表真实工作状态的芯片模型,系统工程师则可精准预测系统级性能表现。这种双向数据传递机制,彻底改变了传统设计流程中各自为战的局面,让芯片设计阶段就能预见系统级行为,显著降低后期返工风险。
本书内容涵盖三大核心领域:电源完整性仿真部分详解CPM模型的应用方法;信号完整性章节包含IBIS-AMI模型使用技巧和DDR5合规验证;热仿真部分则重点介绍2.5D/3D封装的电热耦合解决方案。每个技术章节都配有经过产业验证的实战案例,帮助读者将理论转化为实践能力。
书中所有案例均来自Ansys官方工程团队的一手经验,其中多个流程已获得台积电、三星等半导体制造商的认证。从芯片建模到系统签核,从基础操作到PyAEDT自动化开发,本书构建了完整的学习路径。
目录概览
第1章 Ansys CPS协同仿真
1.1 CPS协同仿真的必要性及挑战
1.2 Ansys CPS协同仿真的流程
第2章 AEDT
2.1 AEDT概述
2.2 HFSS 3D Layout项目建模
2.3 HFSS 3D Layout 仿真参数设置
2.4 SPISim S参数处理
第3章 电源仿真
3.1 CPS电源仿真流程概述
3.2 直流仿真案例
3.3 交流分析案例
3.4 电源瞬态分析
第4章 高速SerDes接口仿真
4.1 SerDes接口仿真概述
4.2 高速串行通道技术
4.3 高速串行通道系统仿真分
4.4 高速SerDes接口仿真案例
第5章 DDR/LPDDR设计仿真与合规检查
5.1 总体介绍
5.2 接口特性
5.3 通道合规仿真
5.4 IBIS建模
第6章 2.5D/3D先进封装仿真
6.1 先进封装介绍
6.2 HBM仿真案例
6.3 D2D仿真案例
第7章 PKG/PCB散热仿真
7.1 基础功能概述
7.2 PCB电热耦合
7.3 封装热阻模型
7.4 芯片封装跨尺度仿真
7.5 电子产品动态热管理
第8章 片上无源元件仿真
8.1 片上无源元件的重要性
8.2 片上电感仿真案
8.3 片上电容仿真案例
第9章 仿真自动化
9.1 仿真自动化的必要性
9.2 仿真自动化的开发环
9.3 AEDT脚本的录制和执行
9.4 IronPython环境概述
9.5 PyAEDT概述和安装
9.6 PyAEDT进行脚本的开发
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“Ansys CPS协同仿真平台可以从深度和广度上提供多种先进技术来帮助电子设计团队应对各种挑战,特别是在协同设计、先进封装和RF模块设计领域的挑战。Ansys强大的电磁、热和结构应力多个物理场仿真、多物理场耦合仿真和高性能计算(HPC)能力是如此引人注目。
作为工程仿真解决方案行业的领导者,我们坚信,Ansys CPS协同仿真方案将为电子信息技术产业带来革命性的变革。我们期待与广大客户和合作伙伴携手共进,拥抱芯片、封装与系统协同仿真设计的新时代,共同推动电子设计技术的进步,共创美好未来!”
——Ansys大中华区总经理,副总裁
特色解读
读者收获
建立系统级仿真思维,突破单点技术局限
掌握产业界认可的标准化仿真流程和方法
获得解决实际工程问题的完整方法论
了解先进封装、高速接口等前沿技术实现
提升跨团队协作和沟通效率