杂散光干扰成像质量？OAS光学软件解难题

在光学系统设计与优化中，杂散光分析是评估系统性能的关键环节，尤其对于高精度成像系统而言，杂散光的存在会直接影响成像质量与测量精度。库克三片式镜头作为经典的光学结构，因其在像差校正方面的优异表现，被广泛应用于摄影、遥感等领域。本案例基于 OAS 光学软件，针对库克三片式镜头开展反向追迹杂散光分析，旨在为该类型镜头的杂散光抑制设计提供数据支撑与优化方向，助力提升光学系统的整体性能。

本案例中，光源采用半孔径为 12.1mm 的平行光源，该设置模拟了远距离平行光入射的实际应用场景。光源波长设定为 0.55μm，此波长处于可见光波段中心位置，是光学系统性能测试的常用基准波长，能够有效反映系统在可见光范围内的杂散光特性。

为精准捕捉杂散光信号并降低噪声干扰，探测器进行了特殊的光线过滤设置。具体参数为生成子光线代数等于 2，通过该设置可对入射光线进行精细化拆分与追踪，提高杂散光检测的灵敏度与准确性，确保分析结果的可靠性。

 

 

本案例通过反向追迹技术，能够精准模拟库克三片式镜头在平行光入射条件下的杂散光传播路径与能量分布情况。借助 OAS 软件强大的光线追迹与分析功能，用户可直观获取杂散光在系统内的产生源头、传播规律及对探测器的影响程度，为镜头的结构优化、遮光设计及镀膜工艺改进提供量化依据。