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电吸收调制器(EA modulator)的高频特性

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*祝宁华* 《光电子器件微波封装和测试》P71~P81页学习总结:

1、     如何测试EA chip的S参数?

在书中,测试的EA chip见图1,是一个10Gbps的EML,进行的是三端口的S参数测试,其中:

•     端口1给EA chip加调制信号以及Vbias;

•     端口2是OE port,EA发出的光通过一个高带宽和高响应度的PD转换为电信号;

•     端口3给Laser加调制信号以及Ibias;

   

如果把VNA加上,测试架构就如图2:

•     Port 1,给EA加调制信号和偏置电压,偏压可以通过VNA直接给,也可以通过外置bias_T来添加;

•     port 2,是OE port,将EA发出的光信号转换成电信号,这样VNA才可以正常接收;

•     port 3,给laser添加调制信号和偏置电流,只能通过外置bias_T来加偏置电流;


芯片级别的高频测试,基本都是用RF probe,基于当前的EA结构,我无法确定祝院士他们当时测试用的是GSG probe还是GS probe,我给出了两种probe测试的图,如下:

•     图3,使用GSG probe,因为当前的陶瓷片上没有足够的pad,所以需要额外做一个submount,然后再通过bonding wire连接,引入了额外的寄生参数,去嵌是个大问题;

   

•     图4,直接使用GS probe,由于EA和LD两边的GND pad和signal pad pitch不一样,所以要定制两种pitch的GS probe,而且EA 这边的GS probe pitch会比较大,寄生电感会大一些,带宽受限;

   
问题1:祝院士书中,RF trace是先并联一个电阻然后打线到EA chip,但是现在主流的设计是先打线到EA chip然后再并联50ohm电阻,见图5,这两种匹配方式在高频上会有差异吗?(下次再来做仿真对比验证

来源:光芯高频实验室
寄生参数电子芯片
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首次发布时间:2025-08-09
最近编辑:10小时前
萧隐君
硕士 | 高级射频工程... 大隐隐于市
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