DF仿真的背后，隐藏着采样定理
昨天有课程号友问到DF仿真的一点点困惑。
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说到SystemVue的采样率，个人认为，初次接触的时候，还是觉得难以理解的。
因为，在整个链路中，有很多可以设置采样率的地方，DF仿真器上有，器件设置的参数上有时候也有，然后还有各种可以改变采样率的部件。
好在，把DF上的Display Data Flow information选上，SystemVue可以把链路中各个部件的实际samplerate给显示出来，方便我们来辨别。
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为什么会有SampleRate呢？
SystemVue，在进行DF仿真的时候，还是基于离散信号和离散系统的。
所以，仿真的时候，采样定理一直在背后起着作用。
假设我们有调制信号，载波频率为f0，信号带宽为2B，那么如果直接对该调制信号进行仿真，则要求采样率fs>2*(f0+B)。而f0一般频率会比较高，那此时对应的采样数据会很多，仿真处理起来，就会费时费力。
所以，仿真软件给了另外一种选择，就是采用复包络信号，即complex envelope。
比如，下面的osc器件，输出的就是complex envelope信号，如下图①所示，如果用sink来看数据的话，其包络和fc是分开表示的，如下图②所示。
这点，前年刚接触SystemVue的时候，也是云里雾里，得亏号友指导，用sink把数据调出来，然后分析分析。
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那什么是complex envelope信号呢？
下面是SystemVue给出的定义。
现在我试着结合【1】,来对上面SystemVue的help文件中的定义做一些解释。
在射频系统设计中涉及的信号通常是在带通系统中的已调载波，可以通过同相和正交分量来表示，是一个实信号，即上图中的①。
这个也比较容易理解，比如QPSK调制，一般都采用下面的架构来获得。
就如上面所说，x(t)是一个实信号，是一个载波频率为f0的带通信号，直接仿真的话，数据量会很大。
所以，在仿真软件里，提供了另一个选项，即通过低通等效来简化。
x(t)可以写成：
m(t)就是简化的低通等效，带宽为2B。对m(t)仿真时，采样率均在2B这一量级上，所以仿真时候的数据量显著降低。
怎么获得这个complex envelope信号呢？
就如SystemVue中的定义所示，利用x(t)的Hilbert transform。
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参考文献:
【1】Qizheng Gu，RF System Design of Transceivers for Wireless Communications,2.1.4
