RationalDMIS 7.0触测点最佳拟合（共轴截圆的测量）

    仅换两次测头（两个角度），利用构造——最佳拟合——测量点（特征触测点（测量点））最佳拟合将两半圆特征构造成一整圆特征，便可完成 N 个共轴截圆的测量：

     在检测中，需要将一个阶梯形状的圆柱建立基准。但是使用常规检测方法，工作效率低，使得大部分时间全用在路径和更换测头上了。为此，只需更换一次测头，完成若干半圆的测量，在利用测量点最佳拟合功能，将每组两半圆重新在构造成整圆就行了，方便快捷。

（1）A90B90测量左侧半圆，上下两层：

（2）A90B-90测量右侧半圆，上下两层：

（3）构造——最佳拟合——触测点最佳拟合

    利用测量点最佳拟合功能，将每组两半圆重新在构造成整圆。

RationalDMIS 7.0 回转体坐标系建立实例

RationalDMIS 7.0 一点建坐标系

RationalDMIS 7.0手动测量特征（汇总）

拓展知识：

自动测量特征优点

（1）特征测量的精确性可以通过触测点触测精度的提高而提高，自动特征测量能帮助实现这一点。

（2）在没有CAD模型的情况下，通过分析图纸数据信息，输入到自动特征测量菜单，自动特征测量帮助我们对零件特征进行初步的信息采集。

（3）无CAD，无图纸，自动特征的“自学习”功能帮助我们对元素完成测量。